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葉面積指數(shù)測量儀對不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí)，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件，通過手動調(diào)節(jié)閾值，可以更精準(zhǔn)的測量出葉面積指數(shù)等參數(shù)。

葉面積指數(shù)儀儀器主要技術(shù)參數(shù) 鏡頭角度：150° 分辨率：768×494pix 測量范圍：天頂角由0°～75°（150°魚眼鏡頭）可分割成十個(gè)區(qū)域，方位角360°亦可分割成十個(gè)區(qū)域 PAR感應(yīng)范圍：感應(yīng)光譜400nm～700nm 測量范圍0～2000μmol/㎡?S 分析軟件：植物冠層分析系統(tǒng) 電 　 源：8.4v可充電鋰電池組

葉面積指數(shù)測定儀測試原理與方法 植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過冠層孔隙率的測定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中省力、省時(shí)、快。